TSD/TSM/TSDM系列温度冲击试验箱

温度冲击试验箱主要用于设备零部件、汽车配件、金属制品、化工材料、电子芯片、高分子材料等相关行业必备的检测设备，可用于测试材料或元器件在瞬间的高温或低温连续的环境下物理性能的可靠性，也可以用于环境应力筛选（温度循环）、高/低温环境适应性和可靠性试验，对各种大型电工电子产品用于发现早期故障、模拟实际温度与快温变环境和考核产品耐受温度的能力。

我公司生产的温度冲击试验箱分为三种类型：两厢式、三厢式和两厢移动三温区。主要的区别在于试验方法、样架移动方式及内部结构，可适用于多种使用条件及不同行业用户的需求。

满足如下试验方法：

GB2423.1-08 试验A：低温试验方法

GB2423.2-08试验B：高温试验方法

GJB150A.5-09 温度冲击试验

产品执行标准：

GB10589-2008 低温试验箱技术条件

GB11158-2008 高温试验箱技术条件

GB10592-2008 高低温试验箱技术条件