热流仪、热流罩、快速高低温循环系统
1参数化测试系统 适用于必须操作各种设备和技术的生产和实验室环境，提供业界优越的测试计划灵活性、自动化、探头测试台集成以及测试数据管理功能。吉时利拥有超过 30 年的专业经验，针对这些测试解决方案的设计向全世界的客户提供各种标准和自定义参数化测试仪。
2参数测试系统 是一个全自动化的 48 引脚参数测试系统，适用于高达 3kV 的功率半导体器件和结构的晶片级测试。完全集成式 1 已针对包括碳化硅 (SiC) 和氮化镓 (GaN) 在内的*新复合功率半导体材料进行优化，可以在单次测试触摸中执行所有高电压、低电压和电容测试。
3集成式测试系统 是高度可配置的、基于仪器的系统，适用于器件、晶片或暗盒级半导体检定。 集成式测试系统基于我们经过验证的仪器，提供**的测量功能和系统灵活性，并且根据您的需求可进行扩展。独有的测量能力结合强大而灵活的自动化检定套件 (ACS) 软件，提供市场上其他同类系统无法提供的广泛应用和功能。